本セミナーは、半導体製造におけるAI活用例として、「ウェハマップの自動分類方法」をご紹介いたします。

ウェハマップは、半導体製造における不良原因を特定する手段の１つです。
ウェハテストにおいて各ダイの検査結果（PASS/FAILなど）を配列通りに表示したもので、ウェハ上の個々のチップの状態を視覚的に表現します。
類似する不良パターンは発生原因が同一であると考えられるため、不良の根本原因である工程や処理装置を特定し対策に繋げることができます。
多数のウェハパターンを効率的に分類することで、製造工程の問題を迅速に特定することが可能です。

本セミナーでは、弊社のデータサイエンティストが、過去の半導体メーカーとのPoCでの知見をもとに、ウェハマップを機械学習により自動分類する一例をご紹介します。
分類の精度向上や、実際に本番環境に向けて考慮すべきポイントについても解説します。
皆さまのご参加を心よりお待ちしております。